電子デバイス産業新聞(半導体産業新聞)
新聞・情報紙誌のご案内出版物のご案内広告掲載のご案内セミナー/イベントのご案内
セミナー
シェア
Clip to Evernote
このエントリーをはてなブックマークに追加
車載デバイスの大敵「硫黄系ガス」を防止せよ!
~最新アウトガス分析・評価技術の全貌~

  開催日
2017年7月27日(木) 13:30~16:10
  会場
富士ソフトアキバプラザ7F EXルーム1
  参加費
無料 ※但し、事前登録制
  主催
沖エンジニアリング(株)
  特別協力
(株)産業タイムズ社

受付を終了致しました。多数のお申込みありがとうご ざいました。
 


 車載など先端アプリケーション向けの半導体・電子部品では、硫黄系ガスなど、いわゆる「アウトガス」を原因とする故障が多発しており、大きな問題となっています。
 アウトガス起因の故障を防止するためには、その発生源を迅速かつ高精度に特定することが何より不可欠です。本セミナーは、電子デバイスの大敵となる硫黄系ガスの発生源特定に威力を発揮する最新分析・評価技術の全貌を余すところなくご紹介していきます。
■ プログラム
13:30~13:50

 
 「クルマの電装化・電動化と車載デバイス動向」
  ~マーケットとして見た自動車産業~
(株)産業タイムズ社 電子デバイス産業新聞 編集部 清水 聡

 
13:50~14:40

 
 「故障原因を探せ!硫化による電気・電子機器の故障が多発」
沖エンジニアリング(株) 環境事業部 高貫 智久

 
14:40~15:00

 
 「硫黄系ガスの発生源を探せ その1」
  -使用部材から発生する硫黄系アウトガス分析-
同 環境事業部 鈴木 康之

 
15:00~15:10 休憩/テーブルにて商談受付
15:10~15:30

 
 「貴社の製品は硫黄系ガスに耐えられますか?」
  -特殊ガス環境試験-
同 システム評価事業部 佐藤 晃太郎

 
15:30~15:50

 
 「硫黄系ガスの発生源を探せ その2」
  -環境雰囲気中に潜む極微量硫黄系ガスの高感度分析-
同 環境事業部 西本 浩司

 

  15:50~16:10 アンケート回収/個別相談
 
※講演タイトル、講演者は都合により変更する場合があります。予めご了承下さい。
■ セミナー概要
  開催日
2017年7月27日(木) 13:30~16:10
  会場
富士ソフトアキバプラザ7F EXルーム1
  参加費
無料 ※但し、事前登録制
  主催
沖エンジニアリング(株)
  特別協力
電子デバイス産業新聞 J29
■問い合わせ先
○ 産業タイムズ社 事業開発部
    FAX:03-5835-5495 TEL:03-5835-5894
    Email:pd@sangyo-times.co.jp